GREMIEN MEETING

Arbeitskreis Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop im GA Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung (DGM/DVM) zusammen mit dem FA Texturen

  • 31.03. - 01.04.2016
  • TU Dresden
  • Dresden
Diese Veranstaltung ist bereits vorüber.

Ansprechpartner

Dr. Gert Nolze

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)