GREMIEN MEETING

Arbeitskreis Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop im GA Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung (DGM/DVM)

  • 27.05.2019
  • Fraunhofer Institute for Microstructure of Materials and Systems IMWS, Halle
  • Halle
Diese Veranstaltung ist bereits vorüber.

2019-05-27-AK-EBSD-Tagesordnung.pdf
2019-05-27-AK-EBSD-Zimmerformular.pdf Hotelinformationen


Beschreibung

Anmeldungen per Mail an den AK-Leiter Dr. Gert Nolze

Ansprechpartner

Dr. Gert Nolze

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)