FORTBILDUNG

Angewandte Elektronenmikroskopie in Materialforschung und Schadensanalytik

  • 11.09. - 13.09.2019
  • Hochschule Osnabrück und Universität Osnabrück
  • Osnabrück
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Angewandte Elektronenmikroskopie 2019.pdf Flyer


Beschreibung

ACHTUNG: TERMINVERSCHIEBUNG!
Neuer Termin: 11.-13.09.2019

Seit ihrer Erfindung in den 30er Jahren des vergangenen Jahrhunderts hat sich die Elektronenmikroskopie von einem sehr speziellen Abbildungssystem zu einer großen Technologiebreite entwickelt. Die große Leistungsfähigkeit ist heute ein nicht mehr weg zu denkendes Element für die Nanotechnologie. Zwar wird die Bedienung der Geräte immer einfacher und anwenderfreundlicher gestaltet, die Ausschöpfung der technischen Möglichkeiten und die richtige Interpretation der Bilder und Analyseergebnisse erfordert jedoch ein tiefer gehendes Verständnis der Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Untersuchungsobjekt sowie der Arbeitsweise der Detektoren. Mit einem Fokus auf der praktischen Anwendung in kleinen Gruppen vermittelt die Fortbildung dieses Verständnis in anschaulicher und direkt ausprobierbarer Weise.

Themen & Inhalte

  • Aufbau von Elektronenmikroskopen Rasterelektronenmikroskop
  • Bildentstehung, Anforderung an Proben und Präparationstechniken
  • Praktikumsversuche in Kleingruppen (inkl. Laborbesichtigung)
    - Bedienung eines Rasterelektronenmikroskops
    - Probenpräparation für das REM
    - Abbildungsmöglichkeiten einschl. FIB im REM
  • Bildentstehung im Transmissionselektronenmikroskop
  • Elektronenbeugung: Mikrotexturmessungen mittels EBSD
  • Chemische Analyse im Rasterelektronenmikroskop: EDX und WDX
  • Praktikumsversuche in Kleingruppen
    - Chemische Analyse im REM: EDX und EBSD
    - Probenpräparation für EBSD und TEM / Mikrotom
    - Transmissionselektronenmikroskopie: Ausscheidungen und Versetzungen in Metallen/Hochauflösung
  • Drei Dimensionen und Mikromanipulation im REM: Die Focussed Ion Beam-Technik
  • Praktikumsversuche in Kleingruppen
    - Vorführung der EBSD-Technik
    - Beispiele für die Schadensfallanalyse: Bruchflächen und materialographische Schliffe

Zielgruppe

Die Fortbildung wendet sich an alle, die in ihrem beruflichen Umfeld Elektronenmikroskope nutzen oder häufig mit der Interpretation elektronenmikroskopischer Ergebnisse (bspw. Bruchflächen, chemische Analysen, Mikrotexturmessungen) zu tun haben. Angesprochen fühlen sollten sich insbesondere Techniker, Ingenieure oder Naturwissenschaftler (m/w) in Materialwissenschaft, Werkstofftechnik und Schadensanalyse. Im letzten Teil der Fortbildung werden Fragestellungen der tribologischen Optimierung vertieft.

Zusatzangebot

Für die Teilnehmer besteht die Möglichkeit an einem ergänzenden Praxisteil, in einer Kleingruppe bis max. 3 Personen auf individuelle auf individuelle Präparations-, Bedienungs- und Abbildungsprobleme eingegangen wird, gegen eine Gebühr von 500,00 EUR, teilzunehmen. Für die Teilnahme ist eine gesonderte Anmeldung per E-Mail an fortbildung@inventum.de erforderlich. Da der Teilnehmerkreis begrenzt ist, erfolgt die Registrierung nach Eingang der E-Mails.

Fragen & Kontakt

Sie haben Fragen zur Veranstaltung? Gerne beantworten wir diese auch persönlich. Rufen Sie uns einfach an oder senden Sie uns eine E-Mail.

Tel.: +49 (0)2241-2355449      
Fax: +49 (0)2241-4930330
E-Mail: fortbildung@inventum.de  

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Ansprechpartner

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RWTH Aachen University


Dipl.-Ing. Alexander Giertler

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Prof. Dr. rer. nat. M. Haase

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