FORTBILDUNG

Schicht- und Oberflächenanalytik

  • 06.12. - 07.12.2017
  • Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik, Universität Kaiserslautern
  • Kaiserslautern

Schicht- und Oberflächenanalytik.pdf Flyer


Beschreibung

Innere und äußere Grenzflächen und -zonen spielen in der Oberflächentechnik, aber auch für viele andere Technologiebereiche eine wichtige, häufig die entscheidende Rolle. Für Produktentwicklung, Fehlersuche, Prozess- und Qualitätssicherung oder die Optimierung von technologischen Prozessen sind deshalb moderne Methoden der instrumentellen Oberflächen- und Schichtanalytik zu unverzichtbaren Werkzeugen geworden.

Das Fortbildungsseminar will mit den physikalischen und instrumentellen Grundlagen der Mikro- und Nanobereichsanalyse vertraut machen. Anhand von Beispielen aus der analytischen Praxis werden die Vorteile und der Nutzen aufgezeigt, den Unternehmen aus der Anwendung oberflächenanalytischer Methoden ziehen können. Die Teilnehmer werden über den aktuellen Stand und die Leistungsfähigkeit der wichtigsten Oberflächenanalysetechniken informiert. Außerdem wird das notwendige Wissen vermittelt, um die Methoden selbst auswählen und bewerten zu können, die zur Beantwortung von analytischen Fragestellungen aus dem eigenen Unternehmen geeignet sind.

Die Veranstaltung wendet sich an Ingenieure und Techniker, die in der Fertigung, in der Prozess- und Qualitätskontrolle sowie in der Material- und Produktentwicklung tätig sind.

Ansprechpartner

Prof. Dr. Michael Kopnarski

Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS GmbH


Dr. Peter Albers

Evonik Industries AG


Dr. Wolfgang Bock

Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS GmbH


Dr. Alexander Brodyanski

Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS GmbH


Dr. Stefan Emrich

Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS GmbH


Dr. S. Hirth

BASF SE


Dr. Jörg Lösch

Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS GmbH


Dr. Rolf Mathias Merz

Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS GmbH


Bernhard Reuscher

Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS GmbH


Dr. Uwe Rothhaar

Schott AG


Dr. Michael Wahl

Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS GmbH


Prof. Dr. Christiane Ziegler

Technische Universität Kaiserslautern