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Bericht zur Fortbildung "Materialanalytik und Künstliche Intelligenz" vom 20. - 21.05.2019 in Dresden

Ausgehend von kurzen Einführungen zur Materialanalytik und zur Künstlichen Intelligenz wurden in dieser Fortbildung wesentliche Verfahren zur Charakterisierung von dünnen Schichten, von Nanostrukturen und von Nanoteilchen erläutert. Dabei wurden neue Erkenntnisse aus der Grundlagenforschung vorgestellt und erörtert sowie applikationsspezifische Lösungen aus Mikroelektronik, Energietechnik und Leichtbau demonstriert. Das Potenzial der Anwendung von Algorithmen des maschinellen Lernens in Mikroskopie, Spektroskopie und bei der Gewinnung von Daten, die die Struktur, Morphologie und die Eigenschaften von Materialien beschreiben, wurde von Referenten, die sowohl aus Forschung und Lehre als auch aus der industriellen Praxis kommen, aufgezeigt. 

Für weitere Informationen besuchen Sie bitte die Webseite zur Fortbildung.

Statements:

“Die Fortbildung hat mir den aktuellen Stand und die Möglichkeiten der KI in der Materialanalytik näher gebracht und vor allem neue Möglichkeiten von REM und TEM für meine tägliche Arbeit aufgezeigt.”

Gerald Urban, Entwicklungsingenieur, TRUMPF Laser GmbH Berlin

“Sehr gut organisierte Fortbildung mit guten Fachbeiträgen und Diskussionen zu aktuellen Fragen moderner Materialanalytik. Die Labortour hat sehr beindruckt!“  

Werner Blum, Manager Material Development Analysis, VISHAY BCcomponents BEYSCHLAG GmbH, Germany

 

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