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DGM-Fortbildung "Angewandte Elektronenmikroskopie in Materialforschung und Schadensanalytik" vom 11.09. - 13.09.2019 in Osnabrück

Die Fortbildung steht unter der fachlichen Leitung von Prof. Dr.-Ing. habil. Ulrich Krupp, RWTH Aachen University.

Seit ihrer Erfindung in den 30er Jahren des vergangenen Jahrhunderts hat sich die Elektronenmikroskopie von einem sehr speziellen Abbildungssystem zu einer großen Technologiebreite entwickelt. Die große Leistungsfähigkeit ist heute ein nicht mehr weg zu denkendes Element für die Nanotechnologie. Zwar wird die Bedienung der Geräte immer einfacher und anwenderfreundlicher gestaltet, die Ausschöpfung der technischen Möglichkeiten und die richtige Interpretation der Bilder und Analyseergebnisse erfordert jedoch ein tiefer gehendes Verständnis der Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Untersuchungsobjekt sowie der Arbeitsweise der Detektoren. Mit einem Fokus auf der praktischen Anwendung in kleinen Gruppen vermittelt die Fortbildung dieses Verständnis in anschaulicher und direkt ausprobierbarer Weise.

Die Fortbildung wendet sich an alle, die in ihrem beruflichen Umfeld Elektronenmikroskope nutzen oder häufig mit der Interpretation elektronenmikroskopischer Ergebnisse (bspw. Bruchflächen, chemische Analysen, Mikrotexturmessungen) zu tun haben. Angesprochen fühlen sollten sich insbesondere Techniker, Ingenieure oder Naturwissenschaftler (m/w) in Materialwissenschaft, Werkstofftechnik und Schadensanalyse. Im letzten Teil der Fortbildung werden Fragestellungen der tribologischen Optimierung vertieft.

Weitere Informationen zu den Inhalten und den Preisen dieser Fortbildung finden Sie hier.    

Bei Fragen stehen wir Ihnen gerne unter fortbildung@inventum.dezur Verfügung.