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Die Fortbildung „Angewandte Elektronenmikroskopie in Materialforschung und Schadensanalytik“, die erstmals in Osnabrück ausgebucht startete.

Anfang September fand erstmals das dreitägige Fortbildungsseminar Angewandte Elektronenmikroskopie in Materialforschung und Schadensanalytik, dass die Hochschule Osnabrück gemeinsam mit dem Institut für Neue Materialien für die DGM konzipiert hat. Unter der wissenschaftlichen Leitung von Prof. Dr.-Ing. Ulrich Krupp ging es zunächst durch einen Theorieteil, in dem anschaulich die grundsätzliche Funktionsweise der elektronenoptischen Abbildung, aber auch die vielseitigen Möglichkeiten der diversen zusätzlichen Detektoren in raster- und Transmissionselektronenmikroskopen erläutert wurden. Jeweils an den Nachmittagen hatten die Teilnehmer die Möglichkeit, in Kleingruppen die praktische Arbeit an vier verschiedenen Geräten von der Bruchflächenbewertung bis zur atomaren Auflösung kennen zu lernen. Eine abschließende Präsentation von Fallbeispielen zur Bewertung technischer Schadensfälle rundete das Programm ab. Raum für Diskussionen boten neben den Pausen vor allem das gemeinsame Abendessen im historischen Gasthaus "Wein-Krüger" und als Highlight die Stadtführung mit dem Nachtwächter, die zu später Stunde auf dem Turm der Marienkirche zu Osnabrück endete.

Auf Anregung der Teilnehmer wird die Fortbildung in Zukunft (nächster Termin 2.-4. September 2015) um einen optionalen Praxisteil ergänzt, in dem in Kleinstgruppen von maximal 3 Personen auf individuelle Präparations-, Bedienungs- und Abbildungsprobleme eingegangen wird.