Artikel

Fortbildung „Schicht- und Oberflächenanalytik“

vom 06. - 07. Dezember 2017 in Kaiserslautern.

Die Fortbildung steht unter der fachlichen Leitung von Prof. Dr. Michael Kopnarski, Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS und TU Kaiserslautern.

Den Teilnehmern dieser Fortbildung werden mit den physikalischen und instrumentellen Grundlagen der Mikro- und Nanobereichsanalyse vertraut gemacht. Anhand von Beispielen aus der analytischen Praxis werden die Vorteile und der Nutzen aufgezeigt, den Unternehmen aus der Anwendung oberflächenanalytischer Methoden ziehen können. Zudem erhalten die Teilnehmer einen Überblick über den aktuellen Stand und die Leistungsfähigkeit der wichtigsten Oberflächenanalysetechniken. 

Weitere Informationen zu den Inhalten und die Anmeldung zur Fortbildung finden Sie: hier 

Bei Fragen stehen wir Ihnen gerne unter fortbildung@dgm.de zur Verfügung.