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Fortbildungsseminar Schicht- und Oberflächenanalytik vom 2. - 3. Dezember 2015 in Kaiserslautern

Das Fortbildungsseminar will mit den physikalischen und instrumentellen Grundlagen der Mikro- und Nanobereichsanalyse vertraut machen. Anhand von Beispielen aus der analytischen Praxis werden die Vorteile und der Nutzen aufgezeigt, den Unternehmen aus der Anwendung oberflächenanalytischer Methoden ziehen können. Die Teilnehmer werden über den aktuellen Stand und die Leistungsfähigkeit der wichtigsten Oberflächenanalysetechniken informiert. Außerdem wird das notwendige Wissen vermittelt, um die Methoden selbst auswählen und bewerten zu können, die zur Beantwortung von analytischen Fragestellungen aus dem eigenen Unternehmen geeignet sind.

Die Veranstaltung wendet sich an Ingenieure und Techniker, die in der Fertigung, in der Prozess- und Qualitätskontrolle sowie in der Material- und Produktentwicklung tätig sind.

Das Fortbildungsseminar steht unter der fachlichen Leitung von Prof. Dr. rer. nat. (Dipl. Phys.) Michael Kopnarski, Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik, Universität Kaiserslautern.

Weitere Informationen zu den Inhalten und den Preisen unseres Fortbildungsseminars finden Sie unter: http://www.dgm.de/download/fb/1887/1887.pdf

Melden Sie sich jetzt an unter: http://webdb.dgm.de/Fortbildung/anmeldung/FMPro?-db=veranstaltung_anmeldung&-format=veranst_FB_anmeld.htm&-token.0=1887&-view

 

Bei Fragen stehen wir Ihnen gerne unter fortbildung@dgm.de zur Verfügung.