Der Fachausschuss „Materials Modelling, Simulation and Data“

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FIB - Anwendungen in der Materialographie
Gehört zu:
Materialographie
Arbeitskreis Mitglieder: 2

  • Aufgreifen von industriellen und wissenschaftlichen Fragestellungen auf dem Gebiet der Focused Ion Beam (FIB)
  • Anwendungen in der Materialographie:
    • Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (einschließlich lift-out Techniken)
    • Querschnittspräparationen für die Rasterelektronenmikroskopie
    • Kontrastierungsverfahren für die Rasterelektronenmikroskopie (Orientierungskontrast durch Canneling, Materialkontrast infolge unterschiedlicher Abtragsraten, etc.)
    • FIB-Tomographie
    • Mikrobearbeitung (Micromachining)
  • Erarbeiten eines wissenschaftlich fundierten Verständnisses für die Wechselwirkungsprozesse bei der Materialbearbeitung
  • Initiieren von Forschungs- und Entwicklungsvorhaben: gemeinsame Projekte von Forschungsinstituten, Anwenderindustrie und Geräteherstellern
  • Projekte zur Optimierung der Probenqualität und zur Verringerung der Gesamtpräparationszeit
  • Erfahrungsaustausch zwischen Gruppen, die auf dem Gebiet der FIB-Anwendung in der Materialographie arbeiten
  • Erarbeitung von Empfehlungen/Entwicklungsanforderungen für die FIB-Gerätehersteller


E 1


Z 1

Prof. Dr. Ehrenfried Zschech
Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS
FA-Mitglied

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