Der Fachausschuss „Materials Modelling, Simulation and Data“

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Quantitative 3-D Mikroskopie von Oberflächen
Gehört zu:
Materialographie
Arbeitskreis Mitglieder: 113

  • Charakterisierung von Funktionsoberflächen aller Werkstoffgruppen - aus allen technischen Bereichen, wie z.B. Maschinenbau, Elektronik, Baustoffe, Wassertechnik und Forensik.
  • Der Arbeitskreis bietet ein Forum zum Austausch zwischen erfahrenen und neuen Anwendern von 3D-Messverfahren in wissenschaftlichen und indu-striellen Bereichen sowie den Geräteherstellern.
  • Beispiele für 3D-Messverfahren:
    • Makroskopische Bildschnittverfahren
    • Weißlicht- und Laserprofilometrie
    • Konfokale Laserrastermikroskopie
    • Weißlichtinterferenzmikroskopie
    • Stereobildpaaranalyse
    • 3D-Messung mit Mikrostreifenprojektion
  • Bestimmung, Beurteilung und Diskussion der Oberflächenparameter zu deren Zweckmäßigkeit und Quantifizierung.
  • Ein besonderes Interesse gilt im Moment dem Kalibrieren von Messgeräten und Optimierung der Mess- und Verfahrenstechniken.


A 1

Markus Auernhammer
Leica Microsystems CMS GmbH
FA-Mitglied

B 14

Dr. Jens Balzer
Bundeskriminalamt
FA-Mitglied
Peer Barlen
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Wolfram Bauer
Polytec GmbH
FA-Mitglied
Carl Bauer
confovis GmbH
FA-Mitglied
Ulrich Baum
ZF Friedrichshafen AG
FA-Mitglied
C. Benderoth
LMI Technologies
FA-Mitglied
Dr. Dirk Bettge
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
FA-Mitglied
Dr. Günther Beuchle
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Rainer Beusse
Salzgitter Mannesmann Forschung GmbH
FA-Mitglied
Dr. Ewald Bischoff
Max-Planck-Institut für Intelligente Systeme
FA-Mitglied
Dr. Bernd Bodermann
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Daniel Bolich
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Dr. Uwe Brand
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Ingo Böhm
Alicona GmbH
FA-Mitglied

C 1

Doris Ceglarek
Chemetall GmbH
FA-Mitglied

D 3

Hans-Ulrich Danzebrink
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Dr. Christoph Deusen
OLYMPUS DEUTSCHLAND GMBH
FA-Mitglied
Thorsten Dziomba
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
Leiter

E 1

Daniela Exner
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied

F 3

Markus Fabich
Olympus Life Science Europa GmbH
FA-Mitglied
André Felgner
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
stellv. Leiter
Martin Friedrich
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
FA-Mitglied

G 1

Prof. Dr. Mathias Göken
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
FA-Mitglied

H 12

Wilhelm Habicht
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
FA-Mitglied
Bernd Heide
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
FA-Mitglied
Dr. Franz Helmli
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Dr.-Ing. Matthias Hemmleb
point electronic GmbH
FA-Mitglied
Tobias Hercke
Mercedes-Benz AG
FA-Mitglied
Andreas Hertwig
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
FA-Mitglied
Rainer Hofer
ZF Friedrichshafen AG
FA-Mitglied
Mirjam-Diana Hoffmann
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
FA-Mitglied
Dorothee Hüser
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied

I 3

Günter Ihle
Roche Diagnostics GmbH
FA-Mitglied
FA-Mitglied
Dr. Jens Illemann
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied

J 1

Ute Jäntsch
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied

K 11

Dr. Florian Kauffmann
Materialprüfungsanstalt Universität Stuttgart - MPA
FA-Mitglied
FA-Mitglied
Thomas Klein
Leica Microsysteme Vertrieb GmbH
FA-Mitglied
Dr. Stefan Klein
Deutsche Gesellschaft für Materialkunde e.V.
DGM-Fachreferent
01.08.2016
Dr. Ludger Koenders
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Prof. Dr. Otmar Kolednik
Österreichische Akademie der Wissenschaften
FA-Mitglied
Peter Krebs
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Peter Krolla-Sidenstein
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Dr. Rolf Krüger-Sehm
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Martin Kurz
Technische Universität Berlin
FA-Mitglied

L 5

Lutz Lehnert
Modine Europe GmbH
FA-Mitglied
Matthias Liedmann
LMI Technologies
FA-Mitglied
Norbert Lindner
Ruhr-Universität Bochum
FA-Mitglied
Astrid Linkogel
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Armin Löwenstein
Fraunhofer-Institut für Produktionsanlagen und Konstruktionstechnik
FA-Mitglied

M 8

Torsten Machleidt
Gesellschaft für Bild- und Signalverarbeitung (GBS) mbH
FA-Mitglied
Dr. Christian Manhart
Montanuniversität Leoben
FA-Mitglied
Kai Meine
Keyence International
FA-Mitglied
U. Merkle
Keyence Deutschland GmbH
FA-Mitglied
Marcel Milich
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Prof. Dr.-Ing. Frank Mücklich
Universität des Saarlandes
FA-Mitglied
FA-Mitglied

N 2

Dr. Uta Nestler
ZF Friedrichshafen AG
FA-Mitglied
Ulrich Neuschäfer-Rube
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied

P 3

Prof. Dr. Pedro D. Portella
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
FA-Mitglied
Dr. Katja Poser
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Dr. Manfred Prantl
Alicona Imaging GmbH
FA-Mitglied

R 9

Werner Reichstein
c/o HAREKA Sensors
FA-Mitglied
Prof. Dr. Markus Rettenmayr
Friedrich-Schiller-Universität Jena
FA-Mitglied
FA-Mitglied
Dr. Michael Rieth
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
FA-Mitglied
Rolf Rolli
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Holger Rothe
Institut für Bioprozeß- und Analysenmeßtechnik e.V.
FA-Mitglied
Dr. Herbert Ruoff
Materialprüfungsanstalt Universität Stuttgart - MPA
FA-Mitglied
Dr. Ronald Rösch
Fraunhofer-Institut für Techno- und Wirtschaftsmathematik e.V. ITWM
FA-Mitglied

S 17

Dr. Stefan Scherer
Alicona Imaging GmbH
FA-Mitglied
Dr. Rudolf Schiffmann
École Polytechnique Fédérale de Lausanne EPFL
FA-Mitglied
Annette Schlemm
confovis GmbH
FA-Mitglied
Jakob Schlie
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied
Dr. Hans-Christian Schneider
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Dorothée Schroth
Leica Microsysteme Vertrieb GmbH
FA-Mitglied
Prof. Dr. Dorothee Schröder-Obst
Hochschule Bonn-Rhein-Sieg
FA-Mitglied
Dr. Michael Schulz
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Ellen Schulz-Kornas
Max-Planck-Institut für evolutionäre Anthropologie
FA-Mitglied
Helmut Schwarz
Mercedes-Benz Werk
FA-Mitglied
Prof. Dr. Jörg Seewig
TU Kaiserslautern
FA-Mitglied
Petra Severloh
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Dr.-Ing. Dieter Sienel
Technische Hochschule Nürnberg Georg Simon Ohm
FA-Mitglied
Dr.-Ing. Flavio Soldera
Universität des Saarlandes
FA-Mitglied
Gert Sonntag
Carl Zeiss Microscopy GmbH
FA-Mitglied
Jorge Stella
Ruhr-Universität Bochum
FA-Mitglied
FA-Mitglied

T 1

Maika Torge
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied

V 2

Dr. Joachim Venzmer
Th. Goldschmidt AG
FA-Mitglied
FA-Mitglied
08.01.2020

W 10

Dr. Mario Walter
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Prof. Dr. Alexander Wanner
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
FA-Mitglied
Bert Weimar
Bundeskriminalamt
FA-Mitglied
Prof. Dr. Ulrich Wendt
Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg
FA-Mitglied
Dipl.-Ing. Susen Wilkens
Hochschule Osnabrück
FA-Mitglied
Dr. Bert Willems
Hochschule Osnabrück
FA-Mitglied
Dr. Georg Wiora
NanoFocus AG
FA-Mitglied
Ingrid Wührl
Robert Bosch GmbH
FA-Mitglied
FA-Mitglied

X 1

Min Xu
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
FA-Mitglied

Z 4

Christian Zaruba
Technische Universität Wien
FA-Mitglied
Frank Zeismann
Universität Kassel
FA-Mitglied
Dr. Gernot Zies
Materialprüfungsanstalt Universität Stuttgart - MPA
FA-Mitglied
FA-Mitglied

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