Rasterelektronenmikroskopie

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Mikrostrukturcharakterisierung im REM (EBSD)
Gehört zu:
Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung
Arbeitskreis Mitglieder: 5

• Verbesserung des wissenschaftlichen und technischen Verständnisses von EBSD • Erfahrungsaustausch zwischen den Anwendern hinsichtlich Präparation, Fragen zur Optimierung des Messsystems, bis hin zur Datenaufbereitung und Interpretation. • Initiierung und Weiterentwicklung der Kopplung unterschiedlicher analytischer Methoden zur Verbesserung der Aussagekraft von EBSD • Verbesserung der lokale Phasenidentifikation im REM • Erarbeitung von Standards zur Beschreibung von Makro- und Mikro-Gefügen


K 1

Dr. Stefan Klein
Deutsche Gesellschaft für Materialkunde e.V.
DGM-Fachreferent
01.08.2016

N 1

Dr. Gert Nolze
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Leiter

S 2

FA-Mitglied
27.07.2018
Simon Sevsek
RWTH Aachen University
FA-Mitglied
03.12.2018

V 1

Petra von der Bey
Deutsche Gesellschaft für Materialkunde e.V.
FA-Mitglied

Aktuelle Termine

Keine aktuellen Termine

Vergangene Termine


Arbeitskreis Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop im GA Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung (DGM/DVM)
  • 27.05. - 27.05.2019
  • Fraunhofer Institute for Microstructure of Materials and Systems IMWS, Halle | Halle
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Arbeitskreis Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop im GA Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung (DGM/DVM)
  • 28.05. - 29.05.2018
  • Universität Kassel | Kassel
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Arbeitskreis Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop im GA Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung (DGM/DVM)
  • 08.06. - 09.06.2017
  • Helmholtz-Zentrum Geesthacht | Geesthacht
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Arbeitskreis Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop im GA Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung (DGM/DVM) zusammen mit dem FA Texturen
  • 31.03. - 01.04.2016
  • TU Dresden | Dresden
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Arbeitskreis Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop im GA Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung (DGM/DVM)
  • 08.07. - 09.07.2014
  • Max-Planck-Institut für Eisenforschung | Düsseldorf
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